News

    • Dec. 18, 2023
      公益財団法人 広沢技術振興財団より令和5年度・設立15周年記念 ものづくり技術助成事業 試験研究部門に採択いただきました。
      研究課題名「量子コンピューティングのための極低温雑音計測システム開発」
    • March 10, 2023
      Our paper on cryogenic broadband noise characterization received the Best Contributed Paper Award at EDTM 2023  (Download the manuscript from TechRxiv)
    • Dec. 25, 2022
      We are pleased to announce our recent development of a noise measurement system for cryogenic electronics. Please check the preprint at IEEE TechRxiv for more detail.

  • June 30, 2022

    SimYog Technology社製品取扱終了のお知らせ
    2022年6月をもちまして、弊社はSimYog Technology社製品の取り扱いを終了することとなりました。
    本件に関するお問い合わせはこちらまでお願いいたします。

  • April 6, 2022
    応用物理学会の機関誌に寄稿しました。
    『応用物理』基礎講座 シリーズ「先端計測・データ駆動」
    「電子デバイスの電気的雑音測定とその環境構築」2022年 第91巻 第4号 pp. 230-234 （会員認証が必要です）
  • Dec 11, 2021
    Our paper on low-temperature noise characterization of MOSFETs has been published in the IEEE Journal of the Electron Devices Society (J-EDS, Open Access). 
  • Nov 26, 2021
    NEDO「SBIR推進プログラム」に採択されました（実施体制の決定について）。
    提案テーマ名：大規模量子ビット制御に向けた極低温環境下での広帯域雑音計測技術開発
  • July 20, 2021
    Our latest development on cryogenic noise measurement of MOSFETs is now on TechRxiv.
  • May 14, 2021
    We introduce our recent result on cryogenic broadband noise characterization (a presentation video at IEEE EDTM). We will aim to improve the temperature range further down to 4 K for the realization of a cryogenic RF-CMOS chip in quantum computing.
    極低温環境下におけるMOSFEETの広帯域雑音計測に関して最近の成果を動画（EDTMでのプレゼンテーションビデオ）でご覧いただけます。更に開発を進めて4Kでの計測を可能にし、大規模量子コンピューティングにおける要素技術の確立を目指します。

  • April 23, 2021
    SimYog Technology EMI/EMCシミュレータのパンフレット（英語版）を更新しました。
  • Mar 26, 2021
    Our paper on white noise characterization of MOSFETs by utilizing Entrope®︎ Noise Probe has been published in IEEE Transactions on Electron Devices (Open Access).
  • Feb 19, 2021
    We will give a presentation at the 1st Asia/South Pacific MOS-AK Workshop (Feb 25-26).
  • Jan 21, 2021
    Our paper entitled “White Noise Characterization of N-MOSFETs for Physics-Based Cryogenic Device Modeling” has been nominated for the Best Paper Award of IEEE EDTM 2021.
  • Jan 7, 2021
    A PDF copy of the submitted abstract for EDTM 2021 is now downloadable at TechRxiv. The wideband noise measurement of MOSFETs in the temperature range from 300 K down to 120 K has been successfully demonstrated, aiming for predictive device modeling in a cryogenic CMOS circuit of quantum computing.
  • Dec 23, 2020
    We are happy to announce that our recent development for quantum computing will be presented at EDTM 2021. The paper is entitled “White Noise Characterization of N-MOSFETs for Physics-Based Cryogenic Device Modeling”.
  • Dec 7, 2020
    We have uploaded our recent result using Entrope®︎ Noise Probe to TechRxiv Preprint Server.
    “Direct white noise characterization of short-channel MOSFETs”
  • Jan 10, 2020
    2月7日（金）に電子情報技術産業協会（JEITA）で招待講演を行います。
    「2019年度 半導体EMCセミナー」
    主催：JEITA 集積回路製品技術委員会 半導体EMCサブコミティ
    講演タイトル：設計段階での EMI/EMC シミュレーションを活用したモデルベースシステムエンジニアリング
  • Oct 2, 2019
    We will attend SWTest Asia, the premier wafer test technology conference, from October 17th to 18th held in Hsinchu, Taiwan. Come visit our exhibition booth (Booth #222 with Shyan Sheng HiTech Co., Ltd.).
    10月17日〜18日に台湾新竹市で開催される半導体ウェハテストの展示会（SWTest Asia）に出展します。台湾の販売エージェンシーである賢昇科技（股）公司との共同出展です（ブース番号#222）。

  • Sep 22, 2019
    Products & Services のページを更新しました。
  • Sep 17, 2019
    9月18日〜20日まで、名古屋で開催されるオートモーティブワールドでSimYog社Compliance Scopeの展示紹介を行います。（データテクノロジー 株式会社のブースにて展示：小間番号7-71、第3展示館 ポートメッセなごや）
  • Sep 9, 2019
    パナソニック社プロダクト解析センター様に、SimYog社 Compliance Scopeを採用いただきました（お知らせのページへ）。弊社でCompliance Scopeの技術サポートを行っております。
  • May 30, 2019
    SimYog社 Compliance Scope（EMI/EMC専用電磁界解析シミュレータ）のパンフレットをアップしました（日本語／English）。弊社で日本及び台湾での販売と技術サポートを行っております。
  • March 20, 2019
    2019年4月3日に名古屋大学で開催されるシンポジウムで、弊社代表取締役の大毛利が基調講演を行います。
    名古屋大学 未来エレクトロニクス創成加速DII協働大学院プログラム キックオフシンポジウム（詳細）
  • March 9, 2019
    SimYog社 Compliance Scope（EMI/EMC専用電磁界解析シミュレータ）の取り扱いを2019年1月より開始致しました。
  • Dec 20, 2018
    A PDF copy of the presentation file at the 11th International MOS-AK Workshop is available online.
    PDF (the external link to www.mos-ak.org)
  • Dec 1, 2018
    Come visit our exhibition booth at IEDM 2018 in San Francisco.
    IEDM (International Electron Devices Meeting)
  • Nov 28, 2018
    We will give a presentation at the 11th International MOS-AK Workshop.
    MOS-AK: Enabling Compact Modeling R&D Exchange
    Tittle: Direct measurement of white noise in MOSFETs
  • Nov 12, 2018
    The product flyer of new “Entrope” High-Frequency Noise Probe System is uploaded. PDF
  • Nov 10, 2018
    第1回筑波大学発ベンチャーシンポジウムが、12月4日に筑波大学東京キャンパスで開催されます。
    第2部で弊社からも発表を行います。
  • May 20, 2018
    The product flyer of Software for Keysight Technologies B1530A is uploaded. PDF
  • October 12, 2017
    The product flyer of Noise Probe is uploaded.
  • September 29, 2017
    株式会社デバイスラボがつくば市による「つくばテックベンチャー発掘育成プログラム」の支援対象に選ばれました
  • July 14, 2017
    Dr. Ohmori, CEO, will give an invited talk on ReRAM variability at NVMTS.
    Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS)
    August 30 – September 1, 2017 (RWTH Aachen, Germany)
  • June 26, 2017
    株式会社デバイスラボへの融資事例（挑戦支援資本強化特例制度）が日本政策金融公庫からプレスリリースされました
    「電子デバイスの進化に貢献 筑波大発ベンチャーを支援」PDF
  • June 5, 2017
    VLSI Symposium on Technologyにおいて発表する研究成果が筑波大学からプレスリリースされました
  • May 23, 2017
    Device Lab Inc. was financed by Japan Finance Corporation.
    株式会社デバイスラボが日本政策金融公庫の挑戦支援資本強化特例制度による資金調達を実施いたしました
  • April 18, 2017
    Dr. Ohmori, CEO, will present a result on ReRAM variability at VLSI Symposium on Technology.
    Session: T7-1 (June 7, wed)
    Tittle: “Reduction of Cycle-to-Cycle Variability in ReRAM by Filamentary Refresh”
  • April 3, 2017
    Device Lab Inc. established.