• May 1, 2024
      A preprint of our recent outcome on cryogenic MOSFET noise is available at TechRxiv.  
    • Dec. 18, 2023
      公益財団法人 広沢技術振興財団より令和5年度・設立15周年記念 ものづくり技術助成事業 試験研究部門に採択いただきました。
    • March 10, 2023
      Our paper on cryogenic broadband noise characterization received the Best Contributed Paper Award at EDTM 2023  (Download the manuscript from TechRxiv)
    • Dec. 25, 2022
      We are pleased to announce our recent development of a noise measurement system for cryogenic electronics. Please check the preprint at IEEE TechRxiv for more detail.

  • June 30, 2022

    SimYog Technology社製品取扱終了のお知らせ
    2022年6月をもちまして、弊社はSimYog Technology社製品の取り扱いを終了することとなりました。

  • April 6, 2022
    『応用物理』基礎講座 シリーズ「先端計測・データ駆動」
    「電子デバイスの電気的雑音測定とその環境構築」2022年 第91巻 第4号 pp. 230-234 (会員認証が必要です)
  • Dec 11, 2021
    Our paper on low-temperature noise characterization of MOSFETs has been published in the IEEE Journal of the Electron Devices Society (J-EDS, Open Access)
  • Nov 26, 2021
  • July 20, 2021
    Our latest development on cryogenic noise measurement of MOSFETs is now on TechRxiv.
  • May 14, 2021
    We introduce our recent result on cryogenic broadband noise characterization (a presentation video at IEEE EDTM). We will aim to improve the temperature range further down to 4 K for the realization of a cryogenic RF-CMOS chip in quantum computing.

  • April 23, 2021
    SimYog Technology EMI/EMCシミュレータのパンフレット(英語版)を更新しました。
  • Mar 26, 2021
    Our paper on white noise characterization of MOSFETs by utilizing Entrope®︎ Noise Probe has been published in IEEE Transactions on Electron Devices (Open Access).
  • Feb 19, 2021
    We will give a presentation at the 1st Asia/South Pacific MOS-AK Workshop (Feb 25-26).
  • Jan 21, 2021
    Our paper entitled “White Noise Characterization of N-MOSFETs for Physics-Based Cryogenic Device Modeling” has been nominated for the Best Paper Award of IEEE EDTM 2021.
  • Jan 7, 2021
    A PDF copy of the submitted abstract for EDTM 2021 is now downloadable at TechRxiv. The wideband noise measurement of MOSFETs in the temperature range from 300 K down to 120 K has been successfully demonstrated, aiming for predictive device modeling in a cryogenic CMOS circuit of quantum computing.
  • Dec 23, 2020
    We are happy to announce that our recent development for quantum computing will be presented at EDTM 2021. The paper is entitled “White Noise Characterization of N-MOSFETs for Physics-Based Cryogenic Device Modeling”.
  • Dec 7, 2020
    We have uploaded our recent result using Entrope®︎ Noise Probe to TechRxiv Preprint Server.
    “Direct white noise characterization of short-channel MOSFETs”
  • Jan 10, 2020
    「2019年度 半導体EMCセミナー」
    主催:JEITA 集積回路製品技術委員会 半導体EMCサブコミティ
    講演タイトル:設計段階での EMI/EMC シミュレーションを活用したモデルベースシステムエンジニアリング
  • Oct 2, 2019
    We will attend SWTest Asia, the premier wafer test technology conference, from October 17th to 18th held in Hsinchu, Taiwan. Come visit our exhibition booth (Booth #222 with Shyan Sheng HiTech Co., Ltd.).
    10月17日〜18日に台湾新竹市で開催される半導体ウェハテストの展示会(SWTest Asia)に出展します。台湾の販売エージェンシーである賢昇科技(股)公司との共同出展です(ブース番号#222)。

  • Sep 22, 2019
    Products & Services のページを更新しました。
  • Sep 17, 2019
    9月18日〜20日まで、名古屋で開催されるオートモーティブワールドでSimYog社Compliance Scopeの展示紹介を行います。(データテクノロジー 株式会社のブースにて展示:小間番号7-71、第3展示館 ポートメッセなごや
  • Sep 9, 2019
    パナソニック社プロダクト解析センター様に、SimYog社 Compliance Scopeを採用いただきました(お知らせのページへ)。弊社でCompliance Scopeの技術サポートを行っております。
  • May 30, 2019
    SimYog社 Compliance Scope(EMI/EMC専用電磁界解析シミュレータ)のパンフレットをアップしました(日本語English)。弊社で日本及び台湾での販売と技術サポートを行っております。
  • March 20, 2019
    名古屋大学 未来エレクトロニクス創成加速DII協働大学院プログラム キックオフシンポジウム詳細
  • March 9, 2019
    SimYog社 Compliance Scope(EMI/EMC専用電磁界解析シミュレータ)の取り扱いを2019年1月より開始致しました。
  • Dec 20, 2018
    A PDF copy of the presentation file at the 11th International MOS-AK Workshop is available online.
    PDF (the external link to
  • Dec 1, 2018
    Come visit our exhibition booth at IEDM 2018 in San Francisco.
    IEDM (International Electron Devices Meeting)
  • Nov 28, 2018
    We will give a presentation at the 11th International MOS-AK Workshop.
    MOS-AK: Enabling Compact Modeling R&D Exchange
    Tittle: Direct measurement of white noise in MOSFETs
  • Nov 12, 2018
    The product flyer of new “Entrope” High-Frequency Noise Probe System is uploaded. PDF
  • Nov 10, 2018
  • May 20, 2018
    The product flyer of Software for Keysight Technologies B1530A is uploaded. PDF
  • October 12, 2017
    The product flyer of Noise Probe is uploaded.
  • September 29, 2017
  • July 14, 2017
    Dr. Ohmori, CEO, will give an invited talk on ReRAM variability at NVMTS.
    Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS)
    August 30 – September 1, 2017 (RWTH Aachen, Germany)
  • June 26, 2017
    電子デバイスの進化に貢献 筑波大発ベンチャーを支援PDF
  • June 5, 2017
    VLSI Symposium on Technologyにおいて発表する研究成果が筑波大学からプレスリリースされました
  • May 23, 2017
    Device Lab Inc. was financed by Japan Finance Corporation.
  • April 18, 2017
    Dr. Ohmori, CEO, will present a result on ReRAM variability at VLSI Symposium on Technology.
    Session: T7-1 (June 7, wed)
    Tittle: “Reduction of Cycle-to-Cycle Variability in ReRAM by Filamentary Refresh”
  • April 3, 2017
    Device Lab Inc. established.